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Cubierta del libro
MAT. IMPRESO
Autor Orloff, Jon

Título High resolution focused ion beams : FIB and its applications : the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology / Jon Orloff, Mark Utlaut and Lynwood Swanson

Publicación New York : Kluwer Academic, cop. 2003
Ubicación Signatura Tipo de préstamo Estado Notas
 Campus Río Ebro-Instituto de Nanociencia  INA 73    CONSULTAR DEPT  DISPONIBLE
Descripción física x, 303 p. : il. ; 24 cm
Materia CIRBIC UZ.CFQ
Bombardeo iónico -- Aplicaciones industriales
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Autor secundario Utlaut, Mark William
Swanson, Lynwood W.
ISBN 9780306473500