Limitar la búsqueda a ejemplares disponibles



Cubierta del libro
MAT. IMPRESO
Autor Suñé Tarruella, Jorge Francisco

Título Degradación y ruptura dieléctrica del SIO2 en estructuras metal-óxido-semiconductor [Microforma] / Jorge Fco. Suñé Tarruella ; direcció, Xavier Aymerich Humet

Publicación Bellaterra, Barcelona : Universitat Autònoma de Barcelona, 1990
Ubicación Signatura Tipo de préstamo Estado Notas
 B.General-Investigadores  T 2350    CONSULTA EN SALA  DISPONIBLE
Descripción física 1 microfichas ; 11x15 cm + 1 cuadernillo (7 p.)
Colección Tesis doctorales (Universidad Autónoma de Barcelona)
Tesis Tesis en microforma Univ. Autónoma (Barcelona), Facultad de Ciencias, 1989
Autor secundario Aymerich Humet, Xavier
Universidad Autónoma de Barcelona. Facultad de Ciencias
ISBN 8474886279